MEASUREMENTS OF IMPURITY MIGRATION IN GRAPHITE AT HIGH-TEMPERATURES USING A PROTON MICROPROBE

被引：0

作者：

SHROY, RE ^{[1
]}

SOO, P ^{[1
]}

SASTRE, CA ^{[1
]}

SCHWEITZER, DG ^{[1
]}

KRANER, HW ^{[1
]}

JONES, KW ^{[1
]}

机构：

[1] BROOKHAVEN NATL LAB,UPTON,NY 11973

来源：

BULLETIN OF THE AMERICAN PHYSICAL SOCIETY | 1978年 / 23卷 / 08期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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