STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF THE SI(111)-CAF2 INTERFACE BY HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY

被引：15

作者：

TROMP, RM ^{[1
]}

LEGOUES, FK ^{[1
]}

KRAKOW, W ^{[1
]}

SCHOWALTER, LJ ^{[1
]}

机构：

[1] RENSSELAER POLYTECH INST,CTR INTEGRATED ELECTR,TROY,NY 12181

来源：

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.61.2274

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：2274 / 2274

页数：1

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