DECISION-ANALYSIS IN MICROELECTRONIC RELIABILITY - OPTIMAL-DESIGN AND PACKAGING OF A DIODE-ARRAY

被引：4

作者：

RONEN, B ^{[1
]}

PLISKIN, JS ^{[1
]}

机构：

[1] BOSTON UNIV,BOSTON,MA 02215

来源：

OPERATIONS RESEARCH | 1981年 / 29卷 / 02期

关键词：

Compendex;

D O I：

10.1287/opre.29.2.229

中图分类号：

C93 [管理学];

学科分类号：

12 ; 1201 ; 1202 ; 120202 ;

摘要：

INTEGRATED CIRCUITS

引用

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页码：229 / 242

页数：14

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共 6 条

[1]

Anderson RT., 1976, RELIABILITY DESIGN H

[2]

BARLOW RE, 1975, STATISTICAL THEORY R

[3]

*CTR NAT ET TEL CT, 1972, REC DONN FIAB

[4]

Keeney R., 1976, DECISIONS MULTIPLE O

[5]

RAIFFA HOWARD, 1968, DECISION ANAL

[6]

*US DEP DEF, 1974, 217B MIL STAND HDB