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SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY OF THE STEM OF CUT FLOWERS
被引：1
作者：
CLERKX, ACM
PUT, HMC
BOEKESTEIN, A
机构：
[1] TECH & PHYS ENGN RES SERV,WAGENINGEN,NETHERLANDS
[2] SPRENGER INST,WAGENINGEN,NETHERLANDS
关键词：
D O I：
10.1016/0304-3991(88)90150-7
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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