ELECTRON-MICROSCOPY OF TAS2 SINGLE-CRYSTALS USING WEAK BEAM TECHNIQUE

被引：0
作者：
AGARWAL, MK
PATEL, JV
PATEL, TC
机构：
来源：
INDIAN JOURNAL OF PURE & APPLIED PHYSICS | 1980年 / 18卷 / 11期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
引用
收藏
页码：899 / 902
页数：4
相关论文
共 3 条
  • [1] Agarwal M. K., 1979, B MATER SCI, V1, P107
  • [2] INVESTIGATIONS OF DISLOCATION STRAIN FIELDS USING WEAK BEAMS
    COCKAYNE, DJ
    RAY, ILF
    WHELAN, MJ
    [J]. PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 1969, 20 (168): : 1265 - &
  • [3] Wilson J. A., 1969, ADV PHYS, V18
1