ELECTRON-MICROSCOPY OF MULTILAYER SYSTEMS AL-TISI2/SI(111) AND AL-W-TISIX/SI(111)

被引：0

作者：

VASILIEV, AL ^{[1
]}

LEBEDEV, OI ^{[1
]}

VASILIEV, AG ^{[1
]}

ORLIKOVSKIJ, AA ^{[1
]}

机构：

[1] ACAD SCI USSR,INST ENGN PHYS,MOSCOW V-71,USSR

来源：

IZVESTIYA AKADEMII NAUK SSSR SERIYA FIZICHESKAYA | 1991年 / 55卷 / 08期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：1487 / 1493

页数：7