SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY OF ION-BOMBARDED EPON SECTIONS

被引：0

作者：

OBA, A ^{[1
]}

MAEBASHI, H ^{[1
]}

机构：

[1] NATL INST PHYSIOL SCI,DIV TECH,OKAZAKI,AICHI 444,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1991年 / 40卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

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页数：1

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