APPLICATION OF 200KV ULTRAHIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPE

被引：0

作者：

SUZUKI, M ^{[1
]}

KANEYAMA, T ^{[1
]}

NARUSE, M ^{[1
]}

WATANABE, E ^{[1
]}

机构：

[1] JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1990年 / 39卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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