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SAMPLE HOLDER FOR LOW-TEMPERATURE INSITU DEFORMATION TESTS IN 200 KV TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE
被引：0
作者：
GOTTHARDT, R
BUFFAT, P
机构：
来源：
HELVETICA PHYSICA ACTA
|
1979年
/
52卷
/
01期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
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