OCCURRENCE OF A TETRACRITICAL LINE IN X-H-T PHASE-DIAGRAM OF RANDOM 2-COMPONENT ANTI-FERROMAGNETIC SYSTEM K2MN1-XFEXF4

被引:32
作者
BEVAART, L [1 ]
FRIKKEE, E [1 ]
JONGH, LJD [1 ]
机构
[1] STATE UNIV LEIDEN,KAMERLINGH ONNES LAB,LEIDEN,NETHERLANDS
关键词
D O I
10.1016/0038-1098(78)90899-2
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
摘要
引用
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页数:3
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