APPARATUS FOR SENSITIVE INVESTIGATION OF THE THICKNESS DEPENDENCE OF ELECTRIC-CONDUCTIVITY IN VERY THIN METAL-FILMS

被引：0

作者：

FISCHER, G

HOFFMANN, H

TROTTMANN, W

机构：

来源：

VAKUUM-TECHNIK | 1980年 / 29卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH [机械、仪表工业];

学科分类号：

0802 ;

摘要：

引用

页码：7 / 11

页数：5

共 6 条

[1] ELECTRICAL-CONDUCTIVITY IN THIN AND VERY THIN PLATINUM FILMS [J].

HOFFMANN, H ;

FISCHER, G .

[2]

Larson D.C., 1971, PHYS THIN FILMS, V6, P81

[3]

Lutskii V. N., 1970, Physica Status Solidi A, V1, P199, DOI 10.1002/pssa.19700010202

NAMBA, Y .

[5]

Sandomirskii V, 1967, SOV PHYS JETP, V25, P101

[6]

SCHULTE FK, 1973, THESIS U MUNCHEN