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REFRACTORY-METAL GATE PROCESSES FOR VLSI APPLICATIONS
被引:0
作者
:
SHAH, P
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TEXAS INSTRUMENTS INC,SEMICONDUCTOR RES & ENGN LABS,DALLAS,TX 75265
TEXAS INSTRUMENTS INC,SEMICONDUCTOR RES & ENGN LABS,DALLAS,TX 75265
SHAH, P
[
1
]
机构
:
[1]
TEXAS INSTRUMENTS INC,SEMICONDUCTOR RES & ENGN LABS,DALLAS,TX 75265
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1978年
/ 125卷
/ 08期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:C354 / C354
页数:1
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