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BIST FOR EMBEDDED MEMORIES
被引：0
作者：
ZORIAN, Y
机构：
来源：
EE-EVALUATION ENGINEERING
|
1995年
/
34卷
/
09期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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页码：122 / 123
页数：2
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