PREDICTION AND MEASUREMENT OF RADIATION-DAMAGE TO CMOS DEVICES ON BOARD SPACECRAFT

被引：11

作者：

CLIFF, RA

DANCHENKO, V

STASSINOPOULOS, EG

SING, M

BRUCKER, GJ

OHANIAN, RS

机构：

[1] NASA,GODDARD SPACE FLIGHT CTR,GREENBELT,MD 20771

[2] RCA,DIV ASTROELECTR,PRINCETON,NJ 08540

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1976.4328578

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1781 / 1788

页数：8