MEASURING OF LIFETIME FOR MINOR CHARGE CARRIERS IN HIGH-RESISTANT SEMICONDUCTOR SAMPLES BY MEANS OF PROBE METHOD

被引：0
作者：
KONKOV, VL
POLYAKOV, NN
机构：
来源：
IZVESTIYA VYSSHIKH UCHEBNYKH ZAVEDENII FIZIKA | 1971年 / 09期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
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页码：156 / &
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共 6 条
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