A METHOD FOR MEASURING EXTREMELY SMALL NON-UNIFORMITIES IN THE OPTICAL THICKNESS OF EVAPORATED FILMS

被引：10

作者：

GEE, AE

POLSTER, HD

机构：

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA | 1949年 / 39卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.39.001044

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：1044 / 1047

页数：4

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共 2 条

[1]

LEURGANS P, 1947, J OPT SOC AM, V37, P983

[2] REFLECTION FROM A MULTILAYER FILTER [J].

POLSTER, HD .

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, 1949, 39 (12) :1038-1043