AAS STUDIES ON EVAPORATION AND PLASMA PROCESSES IN GRAPHITE FURNACE FOR OPTIMIZATION OF DETERMINATION OF CD, ZN AND MN TRACES IN A(III)B(V) SEMICONDUCTOR MATRICES

被引:23
作者
DITTRICH, K
MOTHES, W
WEBER, P
机构
关键词
D O I
10.1016/0584-8547(78)80009-3
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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页码:325 / 336
页数:12
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