DIFFRACTION EFFECTS AT MIRROR INHOMOGENEITY OF MULTIBEAM INTERFEROMETER

被引:0
作者
BELINSKIJ, AV
CHIRKIN, AS
机构
来源
IZVESTIYA VYSSHIKH UCHEBNYKH ZAVEDENII RADIOFIZIKA | 1986年 / 29卷 / 10期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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页数:4
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