CONTACT POTENTIAL MEASUREMENT OF CHARGE-DISTRIBUTION IN THIN SIO2-FILMS

被引：0

作者：

OHRING, M ^{[1
]}

OSWALD, R ^{[1
]}

BESS, M ^{[1
]}

机构：

[1] STEVENS INST TECHNOL,DEPT MET,HOBOKEN,NJ 07030

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY | 1974年 / 11卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1116/1.1318541

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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