APPARATUS FOR MEASUREMENT OF MINORITY-CARRIER LIFETIME

被引：0
作者：
PANOV, AY
SAMOKHVALOV, MK
机构：
来源：
INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES | 1986年 / 29卷 / 06期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
收藏
页码：1442 / 1444
页数：3
相关论文
共 6 条
[1]  
Batavin V. V., 1985, MEASUREMENT PARAMETE
[2]  
DYAKONOV VP, 1976, PRIB TEKH EKSP, P103
[3]  
IGLITSYN MI, 1957, ZHTF, V27, P1425
[4]  
KOVTONYUK NF, 1970, MEASUREMENT PARAMETE
[5]  
PONKRATOV EI, 1980, PRIB TEKH EKSP, P104
[6]  
TITUS W, 1983, SEMICONDUCTOR CIRCUI
1