EXTENSION OF SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY BY USE OF DIFFRACTION INFORMATION

被引：8
作者：
COWLEY, JM [1 ]
机构：
[1] ARIZONA STATE UNIV,DEPT PHYS,TEMPE,AZ 85281
来源：
ULTRAMICROSCOPY | 1976年 / 1卷 / 03期
关键词：
Compendex;
D O I：
10.1016/0304-3991(76)90039-5
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
CRYSTALS
引用
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页码：255 / 262
页数：8
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HENDERSON, R .
JOURNAL OF MOLECULAR BIOLOGY, 1975, 94 (03) :425-440
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