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作者
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BHAGWAT, AM
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BHAGWAT, AM
SOMAN, SD
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SOMAN, SD
机构
:
来源
:
CURRENT SCIENCE
|
1979年
/ 48卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O [数理科学和化学];
P [天文学、地球科学];
Q [生物科学];
N [自然科学总论];
学科分类号
:
07 ;
0710 ;
09 ;
摘要
:
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页码:151 / 152
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相关论文
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[1]
METHOD OF FORMING FINE HOLES OF NEAR ATOMIC DIMENSIONS
FLEISCHER, RL
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WALKER, RM
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WALKER, RM
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1963,
34
(05)
: 510
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&
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CHEMICAL ETCHING OF CHARGED-PARTICLE TRACKS IN SOLIDS
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JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1962,
33
(12)
: 3407
-
&
[3]
SABIN S, 1973, FORTUNE, V88, P144
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共 3 条
[1]
METHOD OF FORMING FINE HOLES OF NEAR ATOMIC DIMENSIONS
FLEISCHER, RL
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WALKER, RM
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1963,
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(05)
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CHEMICAL ETCHING OF CHARGED-PARTICLE TRACKS IN SOLIDS
PRICE, PB
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WALKER, RM
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1962,
33
(12)
: 3407
-
&
[3]
SABIN S, 1973, FORTUNE, V88, P144
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