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DETERMINATION OF CRITICAL EXPONENTS FOR BINARY-SYSTEM ANILINE-CYCLOHEXANE AT 3 DIFFERENT CONCENTRATIONS NEAR CRITICAL CONCENTRATION GY LIGHT-SCATTERING MEASUREMENTS
被引:0
作者
:
JAECKEL, K
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机构:
UNIV FRANKFURT,INST THEORET PHYS CHEM,FRANKFURT,GERMANY
UNIV FRANKFURT,INST THEORET PHYS CHEM,FRANKFURT,GERMANY
JAECKEL, K
[
1
]
MAJER, U
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UNIV FRANKFURT,INST THEORET PHYS CHEM,FRANKFURT,GERMANY
UNIV FRANKFURT,INST THEORET PHYS CHEM,FRANKFURT,GERMANY
MAJER, U
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机构
:
[1]
UNIV FRANKFURT,INST THEORET PHYS CHEM,FRANKFURT,GERMANY
来源
:
BERICHTE DER BUNSEN-GESELLSCHAFT-PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS
|
1973年
/ 77卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
:
070304 ;
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:294 / 294
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