The film method of measuring surface and interfacial tension

被引：5

作者：

Fahrenwald, AW ^{[1
]}

机构：

[1] Bur Stand, Washington, DC USA

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA AND REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1922年 / 6卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.6.000722

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：722 / 733

页数：12