STRAIN AND CREEP MEASUREMENTS ON ROCKS BY HALOGRAPHIC INTERFEROMETRY

被引：19
作者：
SPETZLER, H
SCHOLZ, CH
LU, CPJ
机构：
[1] LAMONT DOHERTY GEOL OBSERV, PALISADES, NY 10964 USA
[2] SUNY, BINGHAMTON, NY 13901 USA
[3] SANDIA LABS, LIVERMORE, CA 94550 USA
来源：
PURE AND APPLIED GEOPHYSICS | 1974年 / 112卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1007/BF00877294
中图分类号：
P3 [地球物理学]; P59 [地球化学];
学科分类号：
0708 ; 070902 ;
摘要：
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页码：571 / 581
页数：11
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共 5 条
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