CONTRAST AND RESOLUTION OF SECONDARY-ELECTRON IMAGES IN A SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE

被引:0
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作者
LIU, J [1 ]
COWLEY, JM [1 ]
机构
[1] ARIZONA STATE UNIV,DEPT PHYS,TEMPE,AZ 85287
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页码:1957 / 1970
页数:14
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