ROLE OF ELECTRON-MICROSCOPY AND ELECTRON-DIFFRACTION IN STUDY OF OMEGA PHASE

被引:0
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作者
REYNAUD, F [1 ]
机构
[1] CNRS,OPT ELECTR LAB,F-31055 TOULOUSE,FRANCE
来源
JOURNAL DE MICROSCOPIE ET DE SPECTROSCOPIE ELECTRONIQUES | 1977年 / 2卷 / 04期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:381 / &
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