PROJECTIVE PROPERTIES OF LAUE TOPOGRAPHS

被引：23
作者：
MILTAT, J
DUDLEY, M
机构：
[1] UNIV PARIS 11,UTILISAT RAYONNEMENT ELECTROMAGNET LAB,F-91405 ORSAY,FRANCE
[2] LAB MINEROL CRISTALLOG,F-75230 PARIS 05,FRANCE
来源：
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY | 1980年 / 13卷 / DEC期
关键词：
D O I：
10.1107/S0021889880012769
中图分类号：
O6 [化学];
学科分类号：
0703 ;
摘要：
引用
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页码：555 / 562
页数：8
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共 4 条
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PHYSICA STATUS SOLIDI, 1967, 21 (02) :635-+
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