FIELD-EMISSION MICROSCOPE FOR MEASURING FIELD EMISSION FROM SEPARATE FACES OF SINGLE CRYSTALS

被引：0
作者：
PALYUKH, BM
SIVERS, LL
机构：
来源：
INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES-USSR | 1968年 / 05期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：1184 / &
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共 9 条
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