ULTRASENSITIVE MULTIPLE-REFLECTIONS INTERFEROMETER

被引：10

作者：

CHANDRA, S ^{[1
]}

ROHDE, RS ^{[1
]}

机构：

[1] USA,ELECTR R & D COMMAND,NIGHT VIS & ELECTROOPT LAB,FT BELVOIR,VA 22060

来源：

APPLIED OPTICS | 1982年 / 21卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.21.001533

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：3