AUTOMATIC MEASUREMENT OF COMPLEX DIELECTRIC-CONSTANT AND PERMEABILITY AT MICROWAVE-FREQUENCIES

被引:1634
|
作者
WEIR, WB [1 ]
机构
[1] STANFORD RES INST,MENLO PK,CA 94025
关键词
D O I
10.1109/PROC.1974.9382
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:33 / 36
页数:4
相关论文
共 50 条