RANDOM ERRORS IN MOS CAPACITORS

被引：82

作者：

SHYU, JB

TEMES, GC

YAO, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/JSSC.1982.1051862

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1070 / 1076

页数：7

共 8 条

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