STUDY OF ELECTRON-IMPACT IONIZATION, X-RAY PHOTOIONIZATION, AND X-RAY PHOTOEMISSION CURRENTS IN SILICON DIODE ARRAY CAMERA TUBES

被引：0

作者：

FUKUI, H ^{[1
]}

MORRIS, FJ ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY | 1974年 / 11卷 / 03期

关键词：

Compendex;

D O I：

10.1116/1.1318068

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

ELECTRON TUBES, TELEVISION CAMERA

引用

页码：561 / 566

页数：6