THICKNESS DEPENDENCE OF BREAKDOWN FIELD

被引：12

作者：

AGARWAL, VK ^{[1
]}

SRIVASTA.VK ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ROORKEE,DEPT PHYS,ROORKEE,INDIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(72)90320-3

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：S23 / S24

页数：2

共 6 条

[1] THICKNESS DEPENDENCE OF BREAKDOWN FIELD IN THIN FILMS [J].

AGARWAL, VK ;

SRIVASTAVA, VK .

[2] ELECTRICAL BREAKDOWN IN THIN DIELECTRIC FILMS [J].

FORLANI, F ;

MINNAJA, N .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1969, 6 (04) :518-+

FORLANI, F ;

MINNAJA, N .

PHYSICA STATUS SOLIDI, 1964, 4 (02) :311-324

[4] SWITCHING AND BREAKDOWN IN FILMS [J].

KLEIN, N .

[5]

KLEIN N, 1969, ADVAN ELECTRON ELECT, V26, P409

SRIVASTA.VK ;

VERMA, AR .