IDENTIFICATION OF SEMICONDUCTOR CONTACT RESISTIVITY

被引：17

作者：

BUSENBERG, S ^{[1
]}

FANG, WF ^{[1
]}

机构：

[1] CLAREMONT GRAD SCH,CLAREMONT,CA 91711

来源：

关键词：

D O I：

10.1090/qam/1134746

中图分类号：

O29 [应用数学];

学科分类号：

070104 ;

摘要：

引用

页码：639 / 649

页数：11

共 9 条

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