SENSITIVITY OF DETECTION OF ELEMENTS BY PHOTOELECTRON SPECTROMETRY

被引：305
作者：
WAGNER, CD
机构：
来源：
ANALYTICAL CHEMISTRY | 1972年 / 44卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1021/ac60314a038
中图分类号：
O65 [分析化学];
学科分类号：
070302 ; 081704 ;
摘要：
引用
收藏
页码：1050 / &
相关论文
共 6 条
[1]   X-RAY PHOTOEFFECT CROSS SECTIONS IN LOW- AND MEDIUM-Z ABSORBERS FOR ENERGY RANGE 852 EV TO 40 KEV [J].
BEARDEN, AJ .
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1966, 37 (04) :1681-&
[2]   ENHANCEMENT OF SENSITIVITY IN ESCA SPECTROMETERS [J].
HELMER, JC ;
WEICHERT, NH .
APPLIED PHYSICS LETTERS, 1968, 13 (08) :266-&
[3]  
HENKE BL, 1970, ADVANCES XRAY ANALYS, V13, P639
[4]   ATOMIC PHOTOEFFECT IN RANGE EGAMMA=1-2000 KEV [J].
RAKAVY, G ;
RON, A .
PHYSICAL REVIEW, 1967, 159 (01) :50-&
[5]   AUGER LINES IN X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROMETRY [J].
WAGNER, CD .
ANALYTICAL CHEMISTRY, 1972, 44 (06) :967-&
[6]  
WEICHERT NH, 1970, ADVAN XRAY ANAL, V13, P406
1