FINE-STRUCTURE OF CHROMOSOMES OBSERVED BY SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：0

作者：

IINO, A ^{[1
]}

机构：

[1] TOTTORI UNIV,SCH MED,DEPT ANAT,TOTTORI 680,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1980年 / 29卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

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