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DEPENDENCE OF SECONDARY-ELECTRON EMISSION FROM AMORPHOUS MATERIALS ON PRIMARY ANGLE OF INCIDENCE
被引:19
作者
:
SALEHI, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SALEHI, M
FLINN, EA
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0
FLINN, EA
机构
:
来源
:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1981年
/ 52卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.328791
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:994 / 996
页数:3
相关论文
共 12 条
[11]
TITOV AI, 1968, FIZ TVERD TELA+, V10, P1489
[12]
PENETRATION OF ELECTRONS IN ALUMINUM OXIDE FILMS
[J].
YOUNG, JR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YOUNG, JR
.
PHYSICAL REVIEW,
1956,
103
(02)
:292
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共 12 条
[11]
TITOV AI, 1968, FIZ TVERD TELA+, V10, P1489
[12]
PENETRATION OF ELECTRONS IN ALUMINUM OXIDE FILMS
[J].
YOUNG, JR
论文数:
0
引用数:
0
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YOUNG, JR
.
PHYSICAL REVIEW,
1956,
103
(02)
:292
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