PREDICTING RELIABILITY OF HIGH-VOLTAGE CIRCUIT BREAKERS BY A MATHEMATICAL MODEL OF FAILURES

被引:0
作者
GUK, YB
机构
来源
ELECTRICAL TECHNOLOGY | 1969年 / 4卷
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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页码:127 / &
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共 1 条
  • [1] Guk Yu. B., 1969, Elektrichestvo, P5