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PREDICTING RELIABILITY OF HIGH-VOLTAGE CIRCUIT BREAKERS BY A MATHEMATICAL MODEL OF FAILURES
被引:0
作者
:
GUK, YB
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0
引用数:
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h-index:
0
GUK, YB
机构
:
来源
:
ELECTRICAL TECHNOLOGY
|
1969年
/ 4卷
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
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共 1 条
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Guk Yu. B., 1969, Elektrichestvo, P5
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