IMPROVING THE LOWER BOUND FOR THE RELIABILITY WHEN THE STRENGTH DISTRIBUTION IS GAMMA AND THE STRESS-DISTRIBUTION IS CHI-SQUARE

被引：7
作者：
JAISINGH, LR
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1988年 / 28卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(88)90325-3
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：27 / 41
页数：15
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共 4 条
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