共 11 条
LOW-TEMPERATURE FORMATION OF SILICON-NITRIDE AND OXIDE-FILMS BY THE SIMULTANEOUS USE OF A MICROWAVE ION-SOURCE AND AN ICB SOURCE
被引:4
作者:
ISHIKAWA, J
[1
]
MATSUGATANI, K
[1
]
TAKAOKA, G
[1
]
机构:
[1] KYOTO UNIV,ION BEAM ENGN LAB,KYOTO 606,JAPAN
来源:
关键词:
D O I:
10.1016/0042-207X(89)91101-9
中图分类号:
T [工业技术];
学科分类号:
08 ;
摘要:
引用
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页数:3
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