INVESTIGATION OF IMPERFECTIONS IN SILICON SUBSTRATES USING COPPER DISPLACEMENT TECHNIQUE AND X-RAY TOPOGRAPHY

被引：0
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作者：
GRIECO, MJ
机构：
来源：
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY | 1971年 / 118卷 / 08期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号：
081704 ;
摘要：
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页码：C223 / &
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