RELIABILITY ASSESSMENT - MYTHS AND MISUSE OF STATISTICS

被引：0

作者：

SANDLE, PJ

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1972年 / 11卷 / 06期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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共 1 条

[1]

LUKIS LWF, 1972, MICROELECTRON RELIAB, P177