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A NEW METHOD TO DETERMINE FACET REFLECTIVITIES OF ANTIREFLECTION COATED SEMICONDUCTOR-LASER AMPLIFIERS
被引：0
作者：
BAKEWELL, D
机构：
来源：
AUSTRALIAN TELECOMMUNICATION RESEARCH
|
1989年
/
23卷
/
02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0809 ;
摘要：
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页码：35 / 37
页数：3
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