DEPTH DISTRIBUTION PROFILING OF DEUTERIUM AND HE-3

被引：64

作者：

LANGLEY, RA ^{[1
]}

PICRAUX, ST ^{[1
]}

VOOK, FL ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA LABS,ALBUQUERQUE,NM 87115

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3115(74)90253-0

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：257 / 261

页数：5

相关论文

共 4 条

[1]

BRICE DK, PRIVATE COMMUNICATIO

[2]

MAPLES C, 1966, NUCL DATA A, V2, P429

PRONKO, PP ;

PRONKO, JG .

PHYSICAL REVIEW B, 1974, 9 (07) :2870-2878

YARNELL, JL ;

LOVBERG, RH ;

STRATTON, WR .

PHYSICAL REVIEW, 1953, 90 (02) :292-297