COMPARISON OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY OF FRACTURE SURFACES

被引：7

作者：

JOHARI, O

机构：

来源：

JOURNAL OF METALS | 1968年 / 20卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1007/BF03378720

中图分类号：

TF [冶金工业];

学科分类号：

0806 ;

摘要：

引用

页码：26 / &

共 12 条

[1] CARR FL, 1963, JAN WALTR TECH REPT, V320
[2] SCANNING ELECTRON MICROSCOPES - IS HIGH RESOLUTION POSSIBLE
CREWE, AV
[J]. SCIENCE, 1966, 154 (3750) : 729 - &
[3] EVERHART TE, 1966, ERLM161 U CAL ENG RE
[4] IMPROVED SCANNING ELECTRON DIFFRACTION SYSTEM
GRIGSON, CWB
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1965, 36 (11) : 1587 - &
[5] LARSON FR, 1962, T ASM, V55, P599
[6] MCGRATH JT, 1962, J I MET, V91, P34
[7] OATTEY CW, 1965, ADV ELECTRONICS ELEC, V21, P181
[8] PHILIPS A, AD612912
[9] PHILIPS A, 1965, MLTDR64416 AIR FORC
[10] POLLOUX RMN, 1963, D1820169R1 BOEING SC