LINE STRENGTHS, COLLISION STRENGTHS AND EXCITATION RATES FOR MULTIPLY-CHARGED SILICON IONS

被引：19

作者：

DAVIS, J ^{[1
]}

KEPPLE, PC ^{[1
]}

BLAHA, M ^{[1
]}

机构：

[1] NAVAL RES LAB,DIV PLASMA PHYS,WASHINGTON,DC 20375

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-4073(77)90053-X

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：6