共 12 条
- [11] RUDENAUER FG, 1971, INT J MASS SPECTROM, V6, P309
- [12] WERNER HW, 1969, DEVELOP APPL SPECT A, V7, P243
INSTRUMENTAL ASPECTS OF SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY AND SECONDARY ION IMAGING MASS-SPECTROMETRY
被引：20
作者：
WERNER, HW
[1
]
机构：
[1] PHILIPS RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS
来源：
关键词：
D O I：
10.1016/0042-207X(72)90037-1
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页数：5
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