INSTRUMENTAL ASPECTS OF SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY AND SECONDARY ION IMAGING MASS-SPECTROMETRY

被引：20
作者：
WERNER, HW [1 ]
机构：
[1] PHILIPS RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS
来源：
VACUUM | 1972年 / 22卷 / 11期
关键词：
D O I：
10.1016/0042-207X(72)90037-1
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页码：613 / 617
页数：5
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共 12 条
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