共 2 条
DIFFUSE REFLECTANCE MEASUREMENTS USING FOURIER-TRANSFORM INFRARED (FTIR) SPECTROSCOPY
被引:0
作者:
WITEK, H
KRISHNAN, K
HILL, SL
MATSUMOTO, H
机构:
[1] DIGILAB,CAMBRIDGE,MA 02139
[2] JASCO INT,TOKYO,JAPAN
来源:
PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
|
1981年
/
289卷
关键词:
D O I:
暂无
中图分类号:
O43 [光学];
学科分类号:
070207 ;
0803 ;
摘要:
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页数:3
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